TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOIC, 8 引脚
DIODES INC.
模拟比较器, 轨至轨, 低功耗, 2, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 8 引脚
ON SEMICONDUCTOR
芯片, 通用比较器, 四路, 1.3 US, DIP-14
TEXAS INSTRUMENTS
芯片
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 四路, 低功耗, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 16V, TSSOP, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 电压, 1, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOT-23, 5 引脚
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 四路, 通用, 4, 1.3 μs, 3V 至 36V, SOIC, 14 引脚
STMICROELECTRONICS
双电压比较器
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 电压, 4, 1.3 μs, 2V至32V, ± 1V至± 16V, SOIC, 14 引脚
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 电压, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 16V, TSSOP, 14 引脚
ROHM
模拟比较器, AEC-Q100, 接地检测, 电压, 2, 1.3 μs, 2V至36V, ± 1V至± 18V, SOP, 8
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, TSSOP, 14 引脚
ROHM
模拟比较器, 双路, 通用, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOIC, 8 引脚
ON SEMICONDUCTOR
芯片, 通用比较器, 四路, 1.3US, DIP-14
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, TSSOP, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 四路, 通用, 4, 1.3 μs, 3V 至 36V, DIP, 14 引脚
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
STMICROELECTRONICS
双电压比较器
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
四电压比较器
ROHM
模拟比较器, AEC-Q100, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 14 引脚