TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 36V, TSSOP, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, DIP, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, DIP, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 差分比较器, 四路 0.3US SOIC14
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 双路, 通用, 2, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.4 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 精度, 1, 120 ns, 2.7V 至 5V, SOT-23, 6 引脚
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 高速, 2, 80 ns, 5V 至 ± 15V, SOP, 14 引脚
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 14 引脚
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 14 引脚
ON SEMICONDUCTOR
双电压比较器
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 3V 至 36V, SOIC, 14 引脚
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 通用, 2, 800 ns, 2.7V 至 5V, 微型, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
双电压比较器
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨至轨, 微功率, 2, 300 ns, 2.5V 至 5.5V, ± 1.25V 至 ± 2.75V, SOT-23, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 高速, 1, 115 ns, 3.5V 至 30V, DIP, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 精度, 2, 1.5 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, 微型, 8 引脚
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 单路, 电压, 1, 200 ns, 5V 至 ± 15V, SOIC, 8 引脚
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨至轨输入, 高速, 1, 40 ns, 2.7V 至 5.5V, SC-70, 5 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 36V, SOP, 14 引脚
NXP
模拟比较器, 轨至轨, 低电压, 1, 0.8 μs, 1.3V 至 5.5V, TSSOP, 5 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 电压比较器, 差分, 4路, SOIC
DIODES INC.
模拟比较器, 单路, 差分, 1, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOT-25, 5 引脚