产品分类：半导体 - 集成电路 (IC),规格：封装 剪切带,
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 精度, 1, 120 ns, 2.7V 至 5V, SOT-23, 6 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 高速, 2, 80 ns, 5V 至 ± 15V, SOP, 14 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 14 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 3V 至 36V, SOIC, 14 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 通用, 2, 800 ns, 2.7V 至 5V, 微型, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
双电压比较器
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨至轨, 微功率, 2, 300 ns, 2.5V 至 5.5V, ± 1.25V 至 ± 2.75V, SOT-23, 8 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 精度, 2, 1.5 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, 微型, 8 引脚
(EN)
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 单路, 电压, 1, 200 ns, 5V 至 ± 15V, SOIC, 8 引脚
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨至轨输入, 高速, 1, 40 ns, 2.7V 至 5.5V, SC-70, 5 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 36V, SOP, 14 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 电压比较器, 差分, 4路, SOIC
(EN)
DIODES INC.
模拟比较器, 单路, 差分, 1, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOT-25, 5 引脚
(EN)
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 双路, 低功耗, 2, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, TSSOP, 8 引脚
(EN)
ANALOG DEVICES
模拟比较器, 单路, 高速, 1, 5 ns, 2.5V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)
STMICROELECTRONICS
双电压比较器
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 单路, AEC-Q100, 亚微安, 1, 4 μs, 1.6V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 单路, AEC-Q100, 高速, 1, 49 ns, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨至轨输入, 高速, 2, 40 ns, 2.7V 至 5.5V, SOT-23, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
COMPARATOR, SINGLE, 6us, SOT-23-5
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 通用比较器, 单路, 200NS, SOIC-8
(EN)
ANALOG DEVICES
模拟比较器, 低功耗, 1, 2V 至 5.5V, WLCSP, 6 引脚
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 精密电压, 1, 12 μs, 1.5V 至 5.5V, SC-70, 5 引脚
(EN)ANALOG DEVICES
模拟比较器, 低功耗, 2, 0.01 ms, 1.7V 至 5.5V, SOT-23, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 微功率, 1, 40 ns, 2.7V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)
