产品分类：比较器,规格：芯片输出类型 集电极开路,
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 四路, 精密电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOIC, 14 引脚
(EN)
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 四路, 精密电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOIC, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 36V, SOIC, 14 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 14 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)
STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 双路, 电压, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOIC, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 微功率, 2, 780 ns, 2.2V 至 36V, VSSOP, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 差分, 1, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOT-23, 5 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨输入, 微功率, 2, 2.2V 至 36V, ±1.1V 至 ± 18V, X2QFN, 8 引脚
(EN)
DIODES INC.
模拟比较器, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, MSOP, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, TSSOP, 14 引脚
(EN)DIODES INC.
模拟比较器, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, MSOP, 8 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.5 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 低电压, 2, 300 ns, 2.7V 至 5.5V, SOIC, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 高速, 2, 80 ns, 5V 至 ± 15V, SOP, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 精密电压, 2, 700 ns, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 低电压, 2, 600 ns, 2.7V 至 5.5V, MSOP, 8 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 14 引脚
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 精密电压, 1, 600 ns, 2V 至 36V, SOT-23, 5 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 低电压, 1, 600 ns, 2.7V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 低功耗, 1, 6 μs, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 6 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 微功率, 1, 560 ns, 2.2V 至 36V, ± 1.1V 至 ± 18V, SOT-23, 5 引脚
(EN)
