
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚

ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.5 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚

ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.4 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚

STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 电压, 1, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOT-23, 5 引脚

STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 电压, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚

ROHM
模拟比较器, AEC-Q100, 接地检测, 电压, 2, 1.3 μs, 2V至36V, ± 1V至± 18V, SOP, 8

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, TSSOP, 14 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚

ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚

ROHM
模拟比较器, AEC-Q100, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 14 引脚

ROHM
模拟比较器, AEC-Q100, 接地检测, 电压, 2, 1.3 μs, 2V至36V, ± 1V至± 18V, MSOP, 8

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, MSOP, 8 引脚

STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, TSSOP, 14 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 低功耗, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚

ROHM
模拟比较器, AEC-Q100, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SSOP, 14 引脚

ROHM
模拟比较器, AEC-Q100, 接地检测, 电压, 2, 1.3 μs, 2V至36V, ± 1V至± 18V, SSOP, 8

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 低功耗, 2, 1.5 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚

ON SEMICONDUCTOR
Analogue Comparator, Precision, 2, 1.3 μs, 2V to 36V, ± 1V to ± 18V, SOIC, 8 Pins

ON SEMICONDUCTOR
Analogue Comparator, Precision, 2, 1.5 μs, 2V to 36V, ± 1V to ± 18V, SOIC, 8 Pins

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, MSOP, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚