
ON SEMICONDUCTOR
Analogue Comparator, Precision, 2, 1.3 μs, 2V to 36V, ± 1V to ± 18V, Micro, 8 Pins

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 36V, SOIC, 14 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, SOIC, 8 引脚

ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.4 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 8 引脚

STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 双路, 电压, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOIC, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 精密比较器, 双路, 1.5uS, SOIC-8

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, VSSOP, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, MSOP, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, SOIC, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚

ON SEMICONDUCTOR
Analogue Comparator, General Purpose, 4, 1.3 μs, 3V to 36V, SOIC, 14 Pins

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 300 ns, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, DIP, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 差分比较器, 四路 0.3US SOIC14

ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 14 引脚

ON SEMICONDUCTOR
双电压比较器

ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 1.3 μs, 3V 至 36V, SOIC, 14 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 高速, 1, 115 ns, 3.5V 至 30V, DIP, 8 引脚

STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 双路, 低功耗, 2, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, TSSOP, 8 引脚

TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 差分比较器, 四路, 0.3US DIP14

TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 差分, 1, 115 ns, 3.5V 至 30V, 8 引脚

STMICROELECTRONICS
模拟比较器, 四路, 精密电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOIC, 14 引脚
